Dettagli:
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Nome di prodotto: | Transistor di commutazione ad alta frequenza | modello: | AP7H03DF |
---|---|---|---|
Pacchetto: | DFN3*3-8L | Segno: | AAAA DI AP7H03DF XXX |
Tensione di VDSDrain-fonte: | 30V | VGSGate-Sou rce Voltage: | ±20A |
Evidenziare: | transistor del mosfet del canale di n,transistor ad alta tensione |
Alta frequenza del transistor di effetto del giacimento del MOS di Manica di AP7H03DF 7A 30V DFN33 N
Descrizione del transistor di effetto del giacimento del MOS di Manica di N:
Il AP7H03DF è la fossa di rendimento elevato
MOSFETs N-ch con alta densità estrema delle cellule,
quale forniscono RDSON eccellente e gate la tassa
per la maggior parte di piccola commutazione di potenza e
applicazioni del commutatore del carico. Il raduno il RoHS e
Requisito del prodotto con affidabilità completa di funzione approvata.
Caratteristiche del transistor di effetto del giacimento del MOS di Manica di N
VDS = 30V IDENTIFICAZIONE = 7A
RDS (SOPRA) < 18m="">
RDS (SOPRA) < 30m="">
Dettagli
Il transistor di effetto del giacimento del MOS è utilizzato in molti l'alimentazione elettrica e le applicazioni di potere generale, particolarmente come commutatori. La variante s include i MOSFETs planari, VMOS, UMOS TrenchMOS, HEXFETs ed altre marche commerciali differenti.
Marcatura del pacchetto ed informazioni di ordinazione
Identificazione del prodotto | Pacchetto | Segno | Qty (PCS) |
AP7H03DF | DFN3*3-8L | AAAA DI AP7H03DF XXX | 5000 |
Valutazioni massime assolute (TUM =25℃ salvo indicazione contraria)
Simbolo | Parametro | Valutazione | Unità |
V DS | Tensione di Scolo-fonte | 30 | V |
V GS | Tensione del rce del portone-Sou | ±20 | V |
℃ di identificazione @TC=25 | Corrente continua dello scolo, V GS @ 10V 1 | 7 | A |
℃ di identificazione @TC=100 | Corrente continua dello scolo, V GS @ 10V 1 | 5 | A |
℃ di identificazione @TA=25 | Corrente continua dello scolo, V GS @ 10V 1 | 6,4 | A |
℃ di identificazione @TA=70 | Corrente continua dello scolo, V GS @ 10V 1 | 6 | A |
IDM | Corrente pulsata 2 dello scolo | 56 | A |
EAS | Singola energia 3 della valanga di impulso | 22,1 | mJ |
IAS | Corrente della valanga | 21 | A |
℃ DI P D@TC =25 | Dissipazione di potere totale 4 | 20,8 | W |
℃ DI P D@TA =25 | Dissipazione di potere totale 4 | 1,67 | W |
TSTG | Gamma di temperature di stoccaggio | -55 - 150 | ℃ |
TJ | Gamma di temperature di funzionamento della giunzione | -55 - 150 | ℃ |
RθJA | Resistenza termica 1 Giunzione-ambientale | 75 | ℃/W |
RθJC | Giunzione-caso 1 di resistenza termica | 6 | ℃/W |
Caratteristiche elettriche (℃ di TJ =25, salvo indicazione contraria)
Simbolo | Parametro | Circostanze | Min. | Tipo. | Massimo. | Unità |
LA BV DSS | Tensione di ripartizione di Scolo-fonte | V GS=0V, I D=250uA | 30 | --- | --- | V |
△BV DSS/△TJ | Coefficiente di temperatura di BVDSS | Riferimento 25 a ℃, ID=1mA | --- | 0,022 | --- | V/℃ |
RDS (SOPRA) |
Su resistenza statica 2 di Scolo-fonte |
V GS=10V, ID=10A | --- | --- | 18 |
mΩ |
V GS=4.5V, ID=5A | --- | --- | 30 | |||
V GS (Th) | Tensione della soglia del portone | V GS=V DS, IDENTIFICAZIONE =250UA | 1,0 | --- | 2,5 | V |
△VGS (Th) | V coefficiente di temperatura di GS (Th) | --- | -5,1 | --- | mV/℃ | |
IDSS | Corrente di perdita di Scolo-fonte | V DS=24V, V GS=0V, ℃ DI TJ =25 | --- | --- | 1 | uA |
V DS=24V, V GS=0V, ℃ DI TJ =55 | --- | --- | 5 | |||
IGSS | Corrente di perdita di Portone-fonte | V GS = ±20V, V DS=0V | --- | --- | ±100 | Na |
gfs | Transconduttanza di andata | V DS=5V, ID=10A | --- | 4,5 | --- | S |
Rg | Resistenza del portone | V DS=0V, V GS=0V, f=1MHz | --- | 2,5 | --- | Ω |
Qg | Tassa totale del portone (4.5V) | --- | 7,2 | --- | ||
Qgs | Tassa di Portone-fonte | --- | 1,4 | --- | ||
Qgd | Tassa dello Portone-scolo | --- | 2,2 | --- | ||
Il TD (sopra) | Tempo di ritardo d'apertura |
V DD=12V, V GS=10V, RG=3.3 ID=5A |
--- | 4,1 | --- |
NS |
TR | ||||||
Il TD (fuori) | Tempo di ritardo di giro-Fuori | --- | 15,5 | --- | ||
Tf | Tempo di caduta | --- | 6,0 | --- | ||
Ciss | Capacità dell'input | --- | 572 | --- | ||
Coss | Capacità di uscita | --- | 81 | --- | ||
Crss | Capacità inversa di trasferimento | --- | 65 | --- | ||
È | Corrente di fonte continua 1,5 | V G=V D=0V, forzano la corrente | --- | --- | 28 | A |
DOTTRINA | Corrente di fonte pulsata 2,5 | --- | --- | 56 | A | |
V DEVIAZIONE STANDARD | Tensione di andata 2 del diodo | V GS=0V, I S=1A, ℃ DI TJ =25 | --- | --- | 1,2 | V |
Simbolo | Parametro | Circostanze | Min. | Tipo. | Massimo. | Unità |
LA BV DSS | Tensione di ripartizione di Scolo-fonte | V GS=0V, I D=250uA | 30 | --- | --- | V |
△BV DSS/△TJ | Coefficiente di temperatura di BVDSS | Riferimento 25 a ℃, ID=1mA | --- | 0,022 | --- | V/℃ |
RDS (SOPRA) |
Su resistenza statica 2 di Scolo-fonte |
V GS=10V, ID=10A | --- | --- | 18 |
mΩ |
V GS=4.5V, ID=5A | --- | --- | 30 | |||
V GS (Th) | Tensione della soglia del portone | V GS=V DS, IDENTIFICAZIONE =250UA | 1,0 | --- | 2,5 | V |
△VGS (Th) | V coefficiente di temperatura di GS (Th) | --- | -5,1 | --- | mV/℃ | |
IDSS | Corrente di perdita di Scolo-fonte | V DS=24V, V GS=0V, ℃ DI TJ =25 | --- | --- | 1 | uA |
V DS=24V, V GS=0V, ℃ DI TJ =55 | --- | --- | 5 | |||
IGSS | Corrente di perdita di Portone-fonte | V GS = ±20V, V DS=0V | --- | --- | ±100 | Na |
gfs | Transconduttanza di andata | V DS=5V, ID=10A | --- | 4,5 | --- | S |
Rg | Resistenza del portone | V DS=0V, V GS=0V, f=1MHz | --- | 2,5 | --- | Ω |
Qg | Tassa totale del portone (4.5V) | --- | 7,2 | --- | ||
Qgs | Tassa di Portone-fonte | --- | 1,4 | --- | ||
Qgd | Tassa dello Portone-scolo | --- | 2,2 | --- | ||
Il TD (sopra) | Tempo di ritardo d'apertura |
V DD=12V, V GS=10V, RG=3.3 ID=5A |
--- | 4,1 | --- |
NS |
TR | ||||||
Il TD (fuori) | Tempo di ritardo di giro-Fuori | --- | 15,5 | --- | ||
Tf | Tempo di caduta | --- | 6,0 | --- | ||
Ciss | Capacità dell'input | --- | 572 | --- | ||
Coss | Capacità di uscita | --- | 81 | --- | ||
Crss | Capacità inversa di trasferimento | --- | 65 | --- | ||
È | Corrente di fonte continua 1,5 | V G=V D=0V, forzano la corrente | --- | --- | 28 | A |
DOTTRINA | Corrente di fonte pulsata 2,5 | --- | --- | 56 | A | |
V DEVIAZIONE STANDARD | Tensione di andata 2 del diodo | V GS=0V, I S=1A, ℃ DI TJ =25 | --- | --- | 1,2 | V |
Nota:
i dati 1.The hanno provato da superficie montata su un bordo a 1 pollici FR-4 con rame 2OZ.
i dati 2.The hanno provato tramite pulsato, ≦ 300us, il ≦ 2% di larghezza di impulso del duty cycle
i dati di 3.The EAS mostrano la valutazione massima. La condizione di prova è DD =25V, VGS=10V, L=0.1mH, IAS=21A di V
la dissipazione di potere 4.The è limitata dalla temperatura di giunzione 150℃
i dati 5.The sono teoricamente lo stesso come la I D e la I dm, nelle applicazioni reali, dovrebbero essere limitate dalla dissipazione di potere totale.
Attenzione
1, qualsiasi prodotti della microelettronica di APM descritti o contenuti qui non hanno specifiche che possano trattare le applicazioni che richiedono estremamente gli alti livelli dell'affidabilità, quali i sistemi di sopravvivenza, i sistemi di controllo dell'aereo, o altre applicazioni di cui il guasto può ragionevolmente essere preveduto per provocare il danno fisico e/o materiale serio. Consultivi con il vostro più vicino rappresentativo della microelettronica di APM prima di usando qualsiasi prodotti della microelettronica di APM descritti o contenuti qui in tali applicazioni.
2, la microelettronica di APM non assumono la responsabilità dei guasti di attrezzatura che derivano dal usando i prodotti ai valori che superano anche momentaneamente, i valori nominali (quali le valutazioni massime, la condizione di gestione varia, o altri parametri) elencati nelle specifiche di prodotti di qualsiasi prodotti della microelettronica di APM descritti o contenuti qui.
1, specifiche di qualsiasi prodotti della microelettronica di APM ha descritto o contenuto qui il instipulate la prestazione, le caratteristiche e le funzioni dei prodotti descritti nello stato indipendente e non è garanzie della prestazione, delle caratteristiche e delle funzioni dei prodotti descritti come montato in prodotti o attrezzature del cliente. Per verificare i sintomi e gli stati che non possono essere valutati in un dispositivo indipendente, il cliente dovrebbe esaminare e collaudare sempre i dispositivi montati in prodotti o attrezzature del cliente.
2, semiconduttore CO., srl della microelettronica di APM si sforzano di fornire gli alti prodotti dell'affidabilità di alta qualità. Tuttavia, qualsiasi prodotti a semiconduttori si guastano con una certa probabilità. È possibile che questi guasti probabilistici potrebbero provocare gli incidenti o gli eventi che potrebbero mettere in pericolo vite umane che potrebbero provocare il fumo o il fuoco, o che potrebbero danneggiare l'altra proprietà. L'attrezzatura di Whendesigning, adotta le misure di sicurezza in moda da non potere accadere questi generi di incidenti o di eventi. Tali misure includono ma non sono limitate ai circuiti di protezione ed ai circuiti di prevenzione degli errori per progettazione sicura, progettazione ridondante e progettazione strutturale.
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Persona di contatto: David